CMOS器件的電學特性
MOS器件的特性受電源電壓和環境溫度的影響，不過由于構成CMOS的p溝、n溝晶體管受影響發作變化的狀況相同，其結果在特性方面有時簡直沒有變化。例如，輸入輸出電壓特性受溫度的影響很小，而且即便電源電壓變化，低電平／高電平輸入電壓與電源電壓之比（例如，VIH＝0.7XVDD，VIL＝0.3VDD）不怎樣變化。這是它的特性。動態工作時耗費電流（FIN-IDD)的特性主要受等效內部電容(CPD)支配，也不怎樣受電源電壓和溫度的影響。
關于CMOS器件特性與電源電壓、溫度的依賴關系，表13.1和表13.2分別列出DC特性和AC特性。思索到器件的電學特性隨環境溫度的變化，在電子設備的電路設計中，必需留有足夠的設計余量。
以CMOS規范邏輯中的門IC(2輸入ANAND門(TC74VHCOOF））例，圖13.1、圖13.2分別示出它們典型的DC特性和AC特性。在與電源電壓關系親密的耐壓、漏電流有關特性、傳輸延遲時間特性等方面，用Log標度表示。
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